matériaux de référence certifiés à base de fe matériaux de référence certifiés à base de ni matériaux de référence certifiés à base de cuivre matériaux de référence certifiés à base d'al matériaux de référence certifiés à base de mg matériaux de référence certifiés basés sur sn matériaux de référence certifiés à base de pb
Carbone : 0,0001 % à 10,0000 % (peut être étendu à 99,9999 %) Soufre : 0,0001 % à 3,5000 % (peut être étendu à 99,9999 %) Pratique, pratique, fiable Dispositif de nettoyage automatique du brûleur Il adopte un circuit caché à plusieurs niveaux Caractéristiques spectrales de haute efficacité Détection automatique de l'électrovanne Conception simplifiée, taille plus petite
matériaux de référence certifiés à base de fe matériaux de référence certifiés à base de ni matériaux de référence certifiés à base de cuivre matériaux de référence certifiés à base d'al matériaux de référence certifiés à base de mg matériaux de référence certifiés basés sur sn matériaux de référence certifiés à base de pb
CRM en aluminium série 1 CRM en aluminium série 2 GRC en aluminium série 3 CRM en aluminium série 4 CRM en aluminium série 5 GRC en aluminium série 6 CRM en aluminium série 7 GRC en aluminium série 8
Système de lecture CMOS haute résolution
Faible coût total de possession
Optique sous vide permettant une stabilisation rapide
Excellente stabilité à long terme
Conception intelligente, conception modulaire
Applications ferreuses et non ferreuses
Facile à utiliser avec contrôle total du PC
Interface utilisateur conviviale
Système de lecture CMOS haute résolution
Faible coût total de possession
Optique sous vide permettant une stabilisation rapide
Excellente stabilité à long terme
Conception intelligente, conception modulaire
Applications ferreuses et non ferreuses
Facile à utiliser avec contrôle total du PC
Interface utilisateur conviviale
Système de lecture CMOS haute résolution
Faible coût total de possession
Optique sous vide permettant une stabilisation rapide
Excellente stabilité à long terme
Conception intelligente, conception modulaire
Applications ferreuses et non ferreuses
Facile à utiliser avec contrôle total du PC
Interface utilisateur conviviale
Analyseur de métaux haute performance de 4e génération
Détection de métaux par décharge d'étincelles à base de CMOS
Limites de détection ultra-faibles
Intégration élevée, fiabilité, stabilité
Réduction des coûts d'exploitation et facilité d'entretien
Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon
Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons
Modification des paramètres standardisés
Maximum 30+ éléments
Analyse à teneur élevée en azote (N) : 0,03-0,9 %
Analyseur de métaux haute performance de 4e génération
Détection de métaux par décharge d'étincelles à base de CMOS
Limites de détection ultra-faibles
Intégration élevée, fiabilité, stabilité
Réduction des coûts d'exploitation et facilité d'entretien
Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon
Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons
Modification des paramètres standardisés
Maximum 30+ éléments
Analyse à teneur élevée en azote (N) : 0,03-0,9 %
Analyseur de métaux haute performance de 4e génération
Détection de métaux par décharge d'étincelles à base de CMOS
Limites de détection ultra-faibles
Intégration élevée, fiabilité, stabilité
Réduction des coûts d'exploitation et facilité d'entretien
Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon
Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons
Modification des paramètres standardisés
Maximum 30+ éléments
Analyse à teneur élevée en azote (N) : 0,03-0,9 %
Analyseur de métaux haute performance de 4e génération
Détection de métaux par décharge d'étincelles à base de CMOS
Limites de détection ultra-faibles
Intégration élevée, fiabilité, stabilité
Réduction des coûts d'exploitation et facilité d'entretien
Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon
Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons
Modification des paramètres standardisés
Maximum 30+ éléments
Analyse à teneur élevée en azote (N) : 0,03-0,9 %
Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS
Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale
Limites de détection ultra-faibles
Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments
Stabilité et répétabilité à long terme
Excellente spectroscopie d'émission optique verticale
Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel
Analyse à très faible teneur en carbone et en azote
Applications d'analyse de petits échantillons