Système de lecture CMOS haute résolution
Faible coût total de possession
Optique sous vide permettant une stabilisation rapide
Excellente stabilité à long terme
Conception intelligente, conception modulaire
Applications ferreuses et non ferreuses
Facile à utiliser avec contrôle total du PC
Interface utilisateur conviviale
Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS
Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale
Limites de détection ultra-faibles
Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments
Stabilité et répétabilité à long terme
Excellente spectroscopie d'émission optique verticale
Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel
Analyse à très faible teneur en carbone et en azote
Applications d'analyse de petits échantillons
Analyse sur site flexible, fiable et sûre
Inspection sur site à tout moment et n'importe où
Identification positive des matériaux (PMI)
Léger, environ 20 kg
Haute précision et stabilité
Adapté aux tâches d'analyse dans différentes conditions
Compact, robuste et doté d'optiques haute performance
Conception mobile intelligente et multimodale
Système de lecture CMOS haute résolution
Faible coût total de possession
Optique sous vide permettant une stabilisation rapide
Excellente stabilité à long terme
Conception intelligente, conception modulaire
Applications ferreuses et non ferreuses
Facile à utiliser avec contrôle total du PC
Interface utilisateur conviviale
Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS
Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale
Limites de détection ultra-faibles
Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments
Stabilité et répétabilité à long terme
Excellente spectroscopie d'émission optique verticale
Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel
Analyse à très faible teneur en carbone et en azote
Applications d'analyse de petits échantillons
Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS
Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale
Limites de détection ultra-faibles
Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments
Stabilité et répétabilité à long terme
Excellente spectroscopie d'émission optique verticale
Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel
Analyse à très faible teneur en carbone et en azote
Applications d'analyse de petits échantillons
Analyse sur site flexible, fiable et sûre
Inspection sur site à tout moment et n'importe où
Identification positive des matériaux (PMI)
Léger, environ 20 kg
Haute précision et stabilité
Adapté aux tâches d'analyse dans différentes conditions
Compact, robuste et doté d'optiques haute performance
Conception mobile intelligente et multimodale
Analyse sur site flexible, fiable et sûre
Inspection sur site à tout moment et n'importe où
Identification positive des matériaux (PMI)
Léger, environ 20 kg
Haute précision et stabilité
Adapté aux tâches d'analyse dans différentes conditions
Compact, robuste et doté d'optiques haute performance
Conception mobile intelligente et multimodale
Spectromètres d'émission optique TY-9000 (Arc/Spark-OES)
Analyseur de métaux à décharge d'étincelles basé sur la technologie CCD.
Analyse précise de tous les métaux courants pour le contrôle qualité des produits entrants et sortants.
Plage de longueurs d'onde efficaces : 130 nm - 800 nm.
Évolutivité supérieure pour répondre aux besoins d'expansion de l'entreprise
Robuste et fiable,
Facile à utiliser
Disponible en modèle de table ou sur pied