Système de lecture CMOS haute résolution
Faible coût total de possession
Optique sous vide permettant une stabilisation rapide
Excellente stabilité à long terme
Conception intelligente, Conception modulaire
Applications ferreuses et non ferreuses
Facile à utiliser avec un contrôle total sur PC
Interface utilisateur conviviale
Analyse sur site flexible, fiable et sécurisée
À tout moment, n'importe où, inspection sur site
Identification positive des matériaux (PMI)
Poids léger d'environ 20 kg
Haute précision et stabilité
Convient pour la tâche d'analyse dans différentes conditions
Compact, robuste et avec une optique haute performance
Conception mobile intelligente et multimodale
Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelle basé sur CMOS
Analyse multi-bases à spectre complet pour une flexibilité élémentaire maximale
Limites de détection ultra-basses
Gamme de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum de 30 éléments
Stabilité et répétabilité à long terme
Excellente spectroscopie d'émission optique verticale
Vacuomètre pour surveiller l'état du vide en temps réel
Analyse à très faible teneur en carbone et à faible teneur en azote
Applications d'analyse de petits échantillons
Système de lecture CMOS haute résolution
Faible coût total de possession
Optique sous vide permettant une stabilisation rapide
Excellente stabilité à long terme
Conception intelligente, Conception modulaire
Applications ferreuses et non ferreuses
Facile à utiliser avec un contrôle total sur PC
Interface utilisateur conviviale
Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelle basé sur CMOS
Analyse multi-bases à spectre complet pour une flexibilité élémentaire maximale
Limites de détection ultra-basses
Gamme de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum de 30 éléments
Stabilité et répétabilité à long terme
Excellente spectroscopie d'émission optique verticale
Vacuomètre pour surveiller l'état du vide en temps réel
Analyse à très faible teneur en carbone et à faible teneur en azote
Applications d'analyse de petits échantillons
Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelle basé sur CMOS
Analyse multi-bases à spectre complet pour une flexibilité élémentaire maximale
Limites de détection ultra-basses
Gamme de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum de 30 éléments
Stabilité et répétabilité à long terme
Excellente spectroscopie d'émission optique verticale
Vacuomètre pour surveiller l'état du vide en temps réel
Analyse à très faible teneur en carbone et à faible teneur en azote
Applications d'analyse de petits échantillons
Analyse sur site flexible, fiable et sécurisée
À tout moment, n'importe où, inspection sur site
Identification positive des matériaux (PMI)
Poids léger d'environ 20 kg
Haute précision et stabilité
Convient pour la tâche d'analyse dans différentes conditions
Compact, robuste et avec une optique haute performance
Conception mobile intelligente et multimodale
Analyse sur site flexible, fiable et sécurisée
À tout moment, n'importe où, inspection sur site
Identification positive des matériaux (PMI)
Poids léger d'environ 20 kg
Haute précision et stabilité
Convient pour la tâche d'analyse dans différentes conditions
Compact, robuste et avec une optique haute performance
Conception mobile intelligente et multimodale
Spectromètres d'émission optique TY-9000 (arc/spark-oes) analyseur de métaux à base de ccd, à décharge par étincelles,. analyse précise de tous les métaux courants pour le contrôle qualité des produits entrants et sortants. plage de longueur d'onde efficace : 130 nm-800 nm. une évolutivité supérieure pour répondre aux besoins d'expansion de l'entreprise robuste et fiable, facile à utiliser disponible en modèle de paillasse ou au sol