Armoires de propreté personnalisables pour pièces de forme spéciale de grande taille
Grand espace de travail pour les grandes pièces fabriquées
Mesures fiables et reproductibles
Entièrement portable ne nécessitant qu'une source d'alimentation
Conçu et construit selon la norme ISO 16232 de lavage à pression
Circuits de distribution et de recyclage de solvant sous pression
Porte-membrane gravimétrique
Fonction de lavage automatique des murs
Solution complète pour l'analyse optique des particules et la propreté technique
Système d'analyse automatique des filtres
Facilitez votre propreté technique
Élimination et analyse de la contamination
Analyses et révision rapides en direct
Intégration complète du système pour des performances élevées
Systèmes d'analyse de propreté modernes avec logiciel intuitif
Système de lecture CMOS haute résolution
Faible coût total de possession
Optique sous vide permettant une stabilisation rapide
Excellente stabilité à long terme
Conception intelligente, Conception modulaire
Applications ferreuses et non ferreuses
Facile à utiliser avec un contrôle total sur PC
Interface utilisateur conviviale
L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération
Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux
Limites de détection ultra-basses
Intégration élevée, fiabilité, stabilité
Faible coût d'exploitation et entretien facile
Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon
Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons
Modification standardisée des paramètres
Maximum 30+ éléments
Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %
Le plus récent instrument d'analyse du carbone et du soufre 2 en 1
Carbone : 0,0001 % ~ 99,9999 %
Soufre : 0,0001 % ~ 99,9999 %
Haute disponibilité, faible coût
Longue durée de vie, haute stabilité
Analyse unique du dispositif d'élimination des gaz Étalonnage
linéaire à pleine échelle
Température constante du four à haute température
Conversion du monoxyde de carbone
Technologie de détection des signaux faibles
Principales applications : principalement utilisé dans l'acier, le fer, les alliages, le moulage de sable, les métaux non ferreux
Équipement d'analyse de carbone et de soufre haut de gamme
Carbone : 0,000001 % ~ 99,999999 %
Soufre : 0,000001 % ~ 99,999999 %
Disponible pour une faible teneur en carbone et une teneur élevée en soufre
Disponible pour deux gammes de carbone et deux gammes de soufre
Facile à utiliser
Dispositif de dioxyde
de carbone Conversion de monoxyde de carbone
Détection automatique de l'électrovanne
Applications clés : principalement utilisé dans le ciment, le minerai, le coke, le catalyseur, les matériaux magnétiques, la céramique, la matière inorganique, le graphite, les matériaux réfractaires, les matériaux de batterie, les plantes et autres matériaux.
ICP-OES simultané pour l'analyse élémentaire de liquides gamme de longueur d'onde : 195-800 nm pour 70 oligoéléments et macroéléments analyser jusqu'à 600 échantillons par jour faibles coûts d'exploitation fonctionnement intuitif limites de détection ultra-basses ultra-haute vitesse de mesure
ICP-OES simultané pour l'analyse élémentaire de liquides gamme de longueur d'onde : 195-800 nm pour 70 oligoéléments et macroéléments analyser jusqu'à 600 échantillons par jour faibles coûts d'exploitation fonctionnement intuitif limites de détection ultra-basses ultra-haute vitesse de mesure
cl, K, si, mg, al, S, P, ca, fe dans le ciment et le calcaire structure de chemin optique à éclairage supérieur haute précision, bonne stabilité, fonctionnement simple résultats des tests proches des tests par voie chimique humide seulement quelques minutes pour analyser des dizaines d'éléments dans un échantillon
contrôle de conformité rapide et non destructif sensibilité et limites de détection exceptionnelles une précision et une justesse remarquables mesurer plus bas que jamais maîtriser l'inconnu qu'il soit liquide, solide ou poudre qu'il s'agisse de feuilles d'arbres, de plastiques, d'huile, de granit ou de verre… gamme élémentaire : na-u
Système de lecture CMOS haute résolution
Faible coût total de possession
Optique sous vide permettant une stabilisation rapide
Excellente stabilité à long terme
Conception intelligente, Conception modulaire
Applications ferreuses et non ferreuses
Facile à utiliser avec un contrôle total sur PC
Interface utilisateur conviviale
L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération
Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux
Limites de détection ultra-basses
Intégration élevée, fiabilité, stabilité
Faible coût d'exploitation et entretien facile
Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon
Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons
Modification standardisée des paramètres
Maximum 30+ éléments
Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %