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Spectromètre d'émission optique à lecture directe W5

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique sous vide pour l'analyse des métaux

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Mots clés :

Spectromètre analyseur direct d'alliages et de métaux

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Mots clés :

Spectromètre OES à lecture directe pour l'analyse des métaux

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Spectromètre Arc Spark OES pour l'analyse des métaux

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Mots clés :

étincelle d'arc
oes étincelle

Spectromètre d'émission optique Arc Spark utilisé dans l'industrie sidérurgique

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Mots clés :

Spectromètres d'émission optique Arc Spark pour les tests et analyses élémentaires

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique à lecture directe en alliage métallique

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Mots clés :