analyseur de métaux,système d'analyse de propreté,analyseurs élémentaires

Matériaux de référence certifiés ALCOA

matériaux de référence certifiés à base de fe matériaux de référence certifiés à base de ni matériaux de référence certifiés à base de cuivre matériaux de référence certifiés à base d'al matériaux de référence certifiés à base de mg matériaux de référence certifiés basés sur sn matériaux de référence certifiés à base de pb

Mots clés :

Matériaux de référence certifiés ALCAN

CRM en aluminium série 1 CRM en aluminium série 2 GRC en aluminium série 3 CRM en aluminium série 4 CRM en aluminium série 5 GRC en aluminium série 6 CRM en aluminium série 7 GRC en aluminium série 8

Mots clés :

Spectromètre OES à étincelles pour l'analyse chimique de l'acier

Système de lecture CMOS haute résolution Faible coût total de possession Optique sous vide permettant une stabilisation rapide Excellente stabilité à long terme Conception intelligente, conception modulaire Applications ferreuses et non ferreuses Facile à utiliser avec contrôle total du PC Interface utilisateur conviviale

Mots clés :

spectromètre pour l'analyse chimique de l'acier
étincelle
Spectromètre OES
spectromètre OES à étincelles

Spectromètre OES à lecture directe utilisé en fonderie

Système de lecture CMOS haute résolution Faible coût total de possession Optique sous vide permettant une stabilisation rapide Excellente stabilité à long terme Conception intelligente, conception modulaire Applications ferreuses et non ferreuses Facile à utiliser avec contrôle total du PC Interface utilisateur conviviale

Mots clés :

Spectromètre à émission sous vide pour l'analyse chimique de l'acier

Système de lecture CMOS haute résolution Faible coût total de possession Optique sous vide permettant une stabilisation rapide Excellente stabilité à long terme Conception intelligente, conception modulaire Applications ferreuses et non ferreuses Facile à utiliser avec contrôle total du PC Interface utilisateur conviviale

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique sous vide pour l'analyse des métaux

Analyseur de métaux haute performance de 4e génération Détection de métaux par décharge d'étincelles à base de CMOS Limites de détection ultra-faibles Intégration élevée, fiabilité, stabilité Réduction des coûts d'exploitation et facilité d'entretien Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification des paramètres standardisés Maximum 30+ éléments Analyse à teneur élevée en azote (N) : 0,03-0,9 %

Mots clés :

Spectromètre d'analyse directe des alliages et des métaux

Analyseur de métaux haute performance de 4e génération Détection de métaux par décharge d'étincelles à base de CMOS Limites de détection ultra-faibles Intégration élevée, fiabilité, stabilité Réduction des coûts d'exploitation et facilité d'entretien Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification des paramètres standardisés Maximum 30+ éléments Analyse à teneur élevée en azote (N) : 0,03-0,9 %

Mots clés :

Spectromètre OES à lecture directe pour l'analyse des métaux

Analyseur de métaux haute performance de 4e génération Détection de métaux par décharge d'étincelles à base de CMOS Limites de détection ultra-faibles Intégration élevée, fiabilité, stabilité Réduction des coûts d'exploitation et facilité d'entretien Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification des paramètres standardisés Maximum 30+ éléments Analyse à teneur élevée en azote (N) : 0,03-0,9 %

Mots clés :

spectromètre à lecture directe

Spectromètre OES à étincelle d'arc pour l'analyse des métaux

Analyseur de métaux haute performance de 4e génération Détection de métaux par décharge d'étincelles à base de CMOS Limites de détection ultra-faibles Intégration élevée, fiabilité, stabilité Réduction des coûts d'exploitation et facilité d'entretien Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification des paramètres standardisés Maximum 30+ éléments Analyse à teneur élevée en azote (N) : 0,03-0,9 %

Mots clés :

étincelle d'arc
oes étincelle

Spectromètre d'émission optique à étincelles pour matériaux de base en galvalume

Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale Limites de détection ultra-faibles Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments Stabilité et répétabilité à long terme Excellente spectroscopie d'émission optique verticale Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel Analyse à très faible teneur en carbone et en azote Applications d'analyse de petits échantillons

Mots clés :

Spectromètres d'émission optique mobiles utilisés dans les tests PMI

Analyse sur site flexible, fiable et sûre Inspection sur site à tout moment et n'importe où Identification positive des matériaux (PMI) Léger, environ 20 kg Haute précision et stabilité Adapté aux tâches d'analyse dans différentes conditions Compact, robuste et doté d'optiques haute performance Conception mobile intelligente et multimodale

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique à étincelle d'arc pour l'aluminium

Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale Limites de détection ultra-faibles Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments Stabilité et répétabilité à long terme Excellente spectroscopie d'émission optique verticale Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel Analyse à très faible teneur en carbone et en azote Applications d'analyse de petits échantillons

Mots clés :

spectromètre d'émission optique à étincelle d'arc
spectromètre à étincelles d'arc