Système de lecture CMOS haute résolution
Faible coût total de possession
Optique sous vide permettant une stabilisation rapide
Excellente stabilité à long terme
Conception intelligente, conception modulaire
Applications ferreuses et non ferreuses
Facile à utiliser avec contrôle total du PC
Interface utilisateur conviviale
Analyseur de métaux haute performance de 4e génération
Détection de métaux par décharge d'étincelles à base de CMOS
Limites de détection ultra-faibles
Intégration élevée, fiabilité, stabilité
Réduction des coûts d'exploitation et facilité d'entretien
Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon
Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons
Modification des paramètres standardisés
Maximum 30+ éléments
Analyse à teneur élevée en azote (N) : 0,03-0,9 %
contrôle de conformité rapide et non destructif sensibilité et limites de détection exceptionnelles une précision et une justesse remarquables mesurer plus bas que jamais maîtriser l'inconnu qu'il soit liquide, solide ou poudre qu'il s'agisse de feuilles d'arbres, de plastiques, d'huile, de granit ou de verre… gamme élémentaire : na-u
cl, K, si, mg, al, S, P, ca, fe dans le ciment et le calcaire structure de chemin optique à éclairage supérieur haute précision, bonne stabilité, fonctionnement simple résultats des tests proches des tests par voie chimique humide seulement quelques minutes pour analyser des dizaines d'éléments dans un échantillon
précis, rapide, non destructif, simple, respectueux de l'environnement pour les éléments dans la gamme de na-u test sans halogène, Test ROHS/ELV mesure de l'épaisseur du revêtement identification de bijoux, pierres précieuses, métaux précieux maîtriser la matière inconnue une sensibilité exceptionnelle permet d'améliorer la précision jusqu'à un facteur 3 faible coût de mesure, facile à utiliser
Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS
Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale
Limites de détection ultra-faibles
Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments
Stabilité et répétabilité à long terme
Excellente spectroscopie d'émission optique verticale
Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel
Analyse à très faible teneur en carbone et en azote
Applications d'analyse de petits échantillons
précis, rapide, non destructif, simple, respectueux de l'environnement pour les éléments dans la gamme de na-u test sans halogène, Test ROHS/ELV mesure de l'épaisseur du revêtement identification de bijoux, pierres précieuses, métaux précieux maîtriser la matière inconnue une sensibilité exceptionnelle permet d'améliorer la précision jusqu'à un facteur 3 faible coût de mesure, facile à utiliser
contrôle de conformité rapide et non destructif sensibilité et limites de détection exceptionnelles une précision et une justesse remarquables mesurer plus bas que jamais maîtriser l'inconnu qu'il soit liquide, solide ou poudre qu'il s'agisse de feuilles d'arbres, de plastiques, d'huile, de granit ou de verre… gamme élémentaire : na-u
ICP-OES simultané pour l'analyse élémentaire de liquides gamme de longueur d'onde : 195-800 nm pour 70 oligoéléments et macroéléments analyser jusqu'à 600 échantillons par jour faibles coûts d'exploitation fonctionnement intuitif limites de détection ultra-basses ultra-haute vitesse de mesure
expert 1 analyseur LIBS portable rapide. durable. précis. analyse fiable, de la qualité des métaux à haute productivité en seulement 1 seconde pour la plupart des alliages idée pour le tri des ferrailles identification positive des matériaux (pmi) sûr et non radiatif faible coût pour le propriétaire en particulier pour l'analyse de la qualité et de la composition des alliages d'aluminium
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Le polissage étant une étape cruciale dans la préparation des échantillons, il est important de choisir un chiffon de polissage de haute qualité. Nos tampons en tissu de polissage métallographique sont minutieusement testés pour fournir une solution complète qui fournit des résultats fiables pour chaque échantillon traité.
苏ICP备18046951号-1
