Matériaux de référence certifiés SUS

CRM en aluminium série 1

CRM en aluminium série 2

GRC en aluminium série 3

CRM en aluminium série 4

CRM en aluminium série 5

GRC en aluminium série 6

CRM en aluminium série 7

GRC en aluminium série 8

matériaux de référence certifiés à base de fe

matériaux de référence certifiés à base de ni

matériaux de référence certifiés à base de cuivre

matériaux de référence certifiés à base d'al

matériaux de référence certifiés à base de mg

matériaux de référence certifiés basés sur sn

matériaux de référence certifiés à base de pb

matériaux de référence certifiés à base de fe

matériaux de référence certifiés à base de ni

matériaux de référence certifiés à base de cuivre

matériaux de référence certifiés à base d'al

matériaux de référence certifiés à base de mg

matériaux de référence certifiés basés sur sn

matériaux de référence certifiés à base de pb

matériaux de référence certifiés à base de fe

matériaux de référence certifiés à base de ni

matériaux de référence certifiés à base de cuivre

matériaux de référence certifiés à base d'al

matériaux de référence certifiés à base de mg

matériaux de référence certifiés basés sur sn

matériaux de référence certifiés à base de pb

matériaux de référence certifiés à base de fe

matériaux de référence certifiés à base de ni

matériaux de référence certifiés à base de cuivre

matériaux de référence certifiés à base d'al

matériaux de référence certifiés à base de mg

matériaux de référence certifiés basés sur sn

matériaux de référence certifiés à base de pb

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération

Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux

Limites de détection ultra-basses

Intégration élevée, fiabilité, stabilité

Faible coût d'exploitation et entretien facile

Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon

Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons

Modification standardisée des paramètres

Maximum 30+ éléments

Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération

Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux

Limites de détection ultra-basses

Intégration élevée, fiabilité, stabilité

Faible coût d'exploitation et entretien facile

Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon

Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons

Modification standardisée des paramètres

Maximum 30+ éléments

Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelle basé sur CMOS

Analyse multi-bases à spectre complet pour une flexibilité élémentaire maximale

Limites de détection ultra-basses

Gamme de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum de 30 éléments

Stabilité et répétabilité à long terme

Excellente spectroscopie d'émission optique verticale

Vacuomètre pour surveiller l'état du vide en temps réel

Analyse à très faible teneur en carbone et à faible teneur en azote

Applications d'analyse de petits échantillons