spectromètre d'émission optique,analyseur de métaux,fournisseur d'étincelles OES

Spectromètre d'émission optique Spark pour le matériau de base Galvalume

Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelle basé sur CMOS Analyse multi-bases à spectre complet pour une flexibilité élémentaire maximale Limites de détection ultra-basses Gamme de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum de 30 éléments Stabilité et répétabilité à long terme Excellente spectroscopie d'émission optique verticale Vacuomètre pour surveiller l'état du vide en temps réel Analyse à très faible teneur en carbone et à faible teneur en azote Applications d'analyse de petits échantillons

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique Arc Spark pour l'aluminium

Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelle basé sur CMOS Analyse multi-bases à spectre complet pour une flexibilité élémentaire maximale Limites de détection ultra-basses Gamme de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum de 30 éléments Stabilité et répétabilité à long terme Excellente spectroscopie d'émission optique verticale Vacuomètre pour surveiller l'état du vide en temps réel Analyse à très faible teneur en carbone et à faible teneur en azote Applications d'analyse de petits échantillons

Mots clés :

spectromètre d'émission optique à étincelle d'arc
spectromètre à étincelles d'arc

Spectromètre d'émission optique CCD pour l'analyse des métaux

analyseur de métaux à base de ccd, à décharge par étincelles,. analyse précise de tous les métaux courants pour le contrôle qualité des produits entrants et sortants. gamme de longueur d'onde efficace : 130 nm-800 nm. une évolutivité supérieure pour répondre aux besoins d'expansion de l'entreprise robuste et fiable, facile à utiliser disponible en modèle de paillasse ou au sol

Mots clés :

Spectromètre à étincelles OES utilisé en métallurgie

Spectromètres d'émission optique TY-9000 (arc/spark-oes) analyseur de métaux à base de ccd, à décharge par étincelles,. analyse précise de tous les métaux courants pour le contrôle qualité des produits entrants et sortants. plage de longueur d'onde efficace : 130 nm-800 nm. une évolutivité supérieure pour répondre aux besoins d'expansion de l'entreprise robuste et fiable, facile à utiliser disponible en modèle de paillasse ou au sol

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique utilisé dans l'analyse de l'acier

Faible coût total de possession Optique sans vide avec stabilisation rapide Performances analytiques et fiabilité inégalées Excellente stabilité à long terme Facile à utiliser avec contrôle total du PC Conception compacte, petite taille. Maximum 20 éléments

Mots clés :

Analyse par spectromètre d'émission optique Spark OES

Système de lecture CMOS haute résolution Faible coût total de possession Optique sous vide permettant une stabilisation rapide Excellente stabilité à long terme Conception intelligente, Conception modulaire Applications ferreuses et non ferreuses Facile à utiliser avec un contrôle total sur PC Interface utilisateur conviviale

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique Arc Spark utilisé dans l'industrie sidérurgique

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique sous vide pour l'analyse de la structure métallurgique

Système de lecture CMOS haute résolution Faible coût total de possession Optique sous vide permettant une stabilisation rapide Excellente stabilité à long terme Conception intelligente, Conception modulaire Applications ferreuses et non ferreuses Facile à utiliser avec un contrôle total sur PC Interface utilisateur conviviale

Mots clés :

Spectromètres d'émission optique Arc Spark pour les tests et analyses élémentaires

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique Analyseur de métaux OES

Système de lecture CMOS haute résolution Faible coût total de possession Optique sous vide permettant une stabilisation rapide Excellente stabilité à long terme Conception intelligente, Conception modulaire Applications ferreuses et non ferreuses Facile à utiliser avec un contrôle total sur PC Interface utilisateur conviviale

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique à lecture directe en alliage métallique

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux Limites de détection ultra-basses Intégration élevée, fiabilité, stabilité Faible coût d'exploitation et entretien facile Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons Modification standardisée des paramètres Maximum 30+ éléments Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

Mots clés :

Spectromètre d'émission optique à lecture directe pour analyse des métaux

Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelle basé sur CMOS Analyse multi-bases à spectre complet pour une flexibilité élémentaire maximale Limites de détection ultra-basses Gamme de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum de 30 éléments Stabilité et répétabilité à long terme Excellente spectroscopie d'émission optique verticale Vacuomètre pour surveiller l'état du vide en temps réel Analyse à très faible teneur en carbone et à faible teneur en azote Applications d'analyse de petits échantillons

Mots clés :