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Spectromètre d'émission optique utilisé dans l'analyse de l'acier

Faible coût total de possession

Optique sans vide avec stabilisation rapide

Performances analytiques et fiabilité inégalées

Excellente stabilité à long terme

Facile à utiliser avec contrôle total du PC

Conception compacte, petite taille.

Maximum 20 éléments

  • les détails du produit
  • vidéo

Sommaire:

Le spectromètre d'émission optique M4 adopte une technologie de processus de conception et de fabrication standard internationale, des combinaisons entièrement numériques avec la technologie Internet, et utilisant un détecteur CMOS haute résolution, le système de purge d'argon conçu avec précision pour garantir des instruments avec des performances plus élevées, un coût inférieur et un prix extrêmement compétitif.

Le spectromètre M4 est l'instrument le plus approprié pour la détermination de divers éléments dans différentes matrices (Fe, Al, Mg). C'est une solution idéale pour le contrôle du traitement des métaux et l'analyse chimique, l'analyse de la qualité des matériaux métalliques et les laboratoires de recherche. Il est économique et ne nécessite pas de système de vide. Si le client veut un coût élevé et que le test est peu fréquent, le M4 OES sera un bon choix.

Applications:

Laboratoires d'essais : laboratoires d'essais commerciaux, universités et collèges

Fabricants d'alliages : contrôle de la transformation des métaux et analyse chimique

Industries de taille moyenne : extrêmement robustes et économiques ; faible coût / analyse

Les fonderies qui ont besoin d'une analyse rapide à proximité du four

Installations de fabrication

Identification du matériel d'entrepôt

Base : Fe, Al, Mg

Traits:

Précis fiable, rapide, polyvalent et abordable

Unité de bureau compacte

Économie d'énergie, alimentation en veille 50VA,

La chambre lumineuse remplie d'argon à la place du système de vide.

Le détecteur CMOS haute résolution peut réaliser une analyse du spectre complet.

Couverture complète de la longueur d'onde, étalonnage personnalisé en usine, ajout d'un nouvel élément sans autre configuration matérielle.

Gamme de longueurs d'onde 165nm ~ 580nm (extensible), les lignes spectrales peuvent couvrir tous les éléments importants

Détection UV très sensible avec le système de purge précisément à l'argon,

Contrôle de la température par spectromètre assurant une grande précision et stabilité

Source d'étincelles numérisée programmable, générant une forme d'onde de décharge optimisée pour différentes bases.

Protection avancée contre l'excitation et système de diagnostic assurant la sécurité de fonctionnement

Contrôle de la purge d'argon protégeant la lentille d'entrée de la contamination, minimisant l'entretien

Capture de données professionnelle, précision améliorée en réduisant les interférences de fond

Étalonnage global en usine avec correction des interférences

Support technologique et mise à jour logicielle gratuits.

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emission spectrometers
Spectromètre d'émission optique M4 OES

Faible coût total de possession

Optique sans vide avec stabilisation rapide

Performances analytiques et fiabilité inégalées

Excellente stabilité à long terme

Facile à utiliser avec contrôle total du PC

Conception compacte, petite taille.

Maximum 20 éléments

portable oes analyzer
Analyseur OES mobile d'alliages et de métaux

Analyse sur site flexible, fiable et sécurisée

À tout moment, n'importe où, inspection sur site

Identification positive des matériaux (PMI)

Poids léger d'environ 20 kg

Haute précision et stabilité

Convient pour la tâche d'analyse dans différentes conditions

Compact, robuste et avec une optique haute performance

Conception mobile intelligente et multimodale

xrf analyzer price
analyse élémentaire par fluorescence X

contrôle de conformité rapide et non destructif

sensibilité et limites de détection exceptionnelles

une précision et une justesse remarquables

mesurer plus bas que jamais

maîtriser l'inconnu qu'il soit liquide, solide ou poudre

qu'il s'agisse de feuilles d'arbres, de plastiques, d'huile, de granit ou de verre…

gamme élémentaire : na-u

icp aes
Analyse ICP AES TY-9900

ICP-OES simultané pour l'analyse élémentaire de liquides

Gamme de longueurs d'onde : 195-800 nm

Pour 70 oligoéléments et macroéléments

Analyse jusqu'à 600 échantillons par jour

Faibles coûts d'exploitation

Fonctionnement intuitif

Limites de détection ultra-basses

Ultra-haute vitesse de mesure

X-Ray Fluorescence
spectromètre à fluorescence X pour métaux

précis, rapide, non destructif, simple, respectueux de l'environnement

pour les éléments dans la gamme de na-u

test sans halogène, Test ROHS/ELV

mesure de l'épaisseur du revêtement

identification de bijoux, pierres précieuses, métaux précieux

maîtriser la matière inconnue

une sensibilité exceptionnelle permet d'améliorer la précision jusqu'à un facteur 3

faible coût de mesure, facile à utiliser

icp aes
Analyse ICP AES pour les métaux

Spectromètre d'émission atomique à plasma à couplage inductif TY-9900 (icp-aes)

gamme de longueur d'onde : 195-800 nm

pour 70 oligoéléments et macroéléments

analyser jusqu'à 600 échantillons par jour

faibles coûts d'exploitation

fonctionnement intuitif

limites de détection ultra-basses

ultra-haute vitesse de mesure

xrf lead tester
spectromètre à fluorescence X analyseur XRF

précis, rapide, non destructif, simple, respectueux de l'environnement

pour les éléments dans la gamme de na-u

test sans halogène, Test ROHS/ELV

mesure de l'épaisseur du revêtement

identification de bijoux, pierres précieuses, métaux précieux

maîtriser la matière inconnue

une sensibilité exceptionnelle permet d'améliorer la précision jusqu'à un facteur 3

faible coût de mesure, facile à utiliser

metal analyzer
Spectromètre OES à lecture directe pour l'analyse des métaux

L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération

Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux

Limites de détection ultra-basses

Intégration élevée, fiabilité, stabilité

Faible coût d'exploitation et entretien facile

Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon

Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons

Modification standardisée des paramètres

Maximum 30+ éléments

Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

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