Système de lecture directe CMOS haute résolution
Gagnez de la place grâce à ses dimensions et son poids réduits.
Un rapport qualité-prix exceptionnel et d'excellentes performances
Bonne détermination des différents éléments dans les diverses matrices
Effectuer une analyse quantitative rapide et précise
Rinçage à l'argon avec une consommation minimale d'argon
Logiciel d'analyse automatique complet avec fonction de diagnostic
Résumé:
Le spectromètre d'émission optique M5 adopte une technologie de conception et de fabrication conforme aux normes internationales, une technologie entièrement numérique et Internet combinée à un détecteur CMOS haute résolution et à un système de purge à l'argon de précision, ce qui en fait un instrument extrêmement performant, extrêmement économique et à un prix compétitif.
Le spectromètre M5 est l'instrument idéal pour le dosage de divers éléments dans différentes matrices (Fe, Al, Cu). Il offre une solution optimale pour des analyses quantitatives rapides et précises avant cuisson, le contrôle qualité des matériaux métalliques et la recherche et le développement en instituts de recherche. De plus, cet instrument portable est à la fois simple d'utilisation et peu encombrant.
Applications :
Laboratoires d'essais : laboratoires d'essais commerciaux, universités et écoles supérieures
Fabricants d'alliages : contrôle de la transformation des métaux et analyse chimique
Industries de taille moyenne : extrêmement robustes et économiques ; faible coût / analyse
Fonderies nécessitant une analyse rapide à proximité du four
Installations de fabrication
Identification des matériaux d'entrepôt
Base : Fe, Al, Cu
Caractéristiques:
Précis, fiable, rapide, polyvalent et abordable
unité de bureau compacte
Économie d'énergie, puissance de veille 50 VA,
La chambre lumineuse est remplie d'argon à la place du système à vide.
Un détecteur CMOS haute résolution permet une analyse spectrale complète.
Couverture complète du spectre, étalonnage d'usine personnalisé, ajout d'un nouvel élément sans configuration matérielle supplémentaire.
Gamme de longueurs d'onde de 165 nm à 580 nm (extensible), les raies spectrales peuvent couvrir tous les éléments importants
Détection UV ultrasensible grâce à un système de purge à l'argon de haute précision,
Contrôle de la température du spectromètre assurant une haute précision et une grande stabilité
Source d'étincelles numérisée programmable, générant une forme d'onde de décharge optimisée pour différentes bases.
Système avancé de protection et de diagnostic des excitations garantissant la sécurité de fonctionnement
Le système de purge à l'argon protège la lentille d'entrée de toute contamination, minimisant ainsi la maintenance.
Capture de données professionnelle, précision améliorée grâce à la réduction des interférences de fond
Calibrage global en usine avec correction des interférences
Assistance technique et mises à jour logicielles gratuites.
Paramètre:
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Article |
Indice |
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Système optique |
Distance focale |
300 mm |
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Gamme de longueurs d'onde |
165 nm-580 nm (extensible) |
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Détecteur |
Détecteurs CMOS multi-détecteurs haute résolution |
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chambre optique |
Remplissage par cycle d'argon |
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Résolution en pixels |
15h30 |
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Ligne de grille |
3600 m1/mm |
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dispersion de raie spectrale du premier ordre rare |
1,2 nm/mm |
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Rapport de résolution moyen |
22h/pixel |
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Spectre complet |
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La température de la chambre optique est contrôlée automatiquement. |
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Source Spark |
Taper |
Source d'arc et d'étincelles numériques |
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Fréquence d'étincelles |
100-1000 Hz |
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Courant de décharge |
1-400A |
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tension d'allumage |
>15000V |
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Lumière d'étincelle |
Conception optimisée des paramètres de décharge |
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Technologie de précombustion à haute énergie HEPS |
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Processeur |
Acquisition et traitement de données synchronisées à haute vitesse |
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Spark Stand |
Électrode |
technologie des électrodes en tungstène |
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Se maquiller |
Conception d'autocompensation de la déformation thermique |
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Argon purgé avec une consommation minimale d'argon |
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technologie d'électrode à décharge par pulvérisation |
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technologie d'électrodes ajustables |
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Autres |
Éléments mesurables |
Fe, Al, Cu, Ni, Ti, Co, Zn, Sn, Mg, Pb, etc. |
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Dimension |
600 mm (L) * 370 mm * 450 mm (H) |
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Poids |
Environ 40 kg |
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température de stockage |
0℃-45℃ |
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Température de fonctionnement |
10℃-35℃, 23±2℃ est recommandé |
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Pouvoir |
220 V CA / 50 Hz (personnalisable) |
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Consommation d'énergie |
Puissance d'excitation : 400 W / Puissance de veille : 50 W |
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Qualité argon |
99,999 %, pression d'argon > 4 MPa |
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Consommation d'argon |
5 L/min en mode allumage |
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Interface |
Transmission de données Ethernet basée sur DM9000A |
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Système de lecture directe CMOS haute résolution
Gagnez de la place grâce à ses dimensions et son poids réduits.
Un rapport qualité-prix exceptionnel et d'excellentes performances
Bonne détermination des différents éléments dans les diverses matrices
Effectuer une analyse quantitative rapide et précise
Rinçage à l'argon avec une consommation minimale d'argon
Logiciel d'analyse automatique complet avec fonction de diagnostic
Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS
Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale
Limites de détection ultra-faibles
Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments
Stabilité et répétabilité à long terme
Excellente spectroscopie d'émission optique verticale
Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel
Analyse à très faible teneur en carbone et en azote
Applications d'analyse de petits échantillons
Analyseur de métaux haute performance de 4e génération
Détection de métaux par décharge d'étincelles à base de CMOS
Limites de détection ultra-faibles
Intégration élevée, fiabilité, stabilité
Réduction des coûts d'exploitation et facilité d'entretien
Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon
Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons
Modification des paramètres standardisés
Maximum 30+ éléments
Analyse à teneur élevée en azote (N) : 0,03-0,9 %
contrôle de conformité rapide et non destructif
sensibilité et limites de détection exceptionnelles
une précision et une justesse remarquables
mesurer plus bas que jamais
maîtriser l'inconnu qu'il soit liquide, solide ou poudre
qu'il s'agisse de feuilles d'arbres, de plastiques, d'huile, de granit ou de verre…
gamme élémentaire : na-u
contrôle de conformité rapide et non destructif
sensibilité et limites de détection exceptionnelles
une précision et une justesse remarquables
mesurer plus bas que jamais
maîtriser l'inconnu qu'il soit liquide, solide ou poudre
qu'il s'agisse de feuilles d'arbres, de plastiques, d'huile, de granit ou de verre…
gamme élémentaire : na-u
précis, rapide, non destructif, simple, respectueux de l'environnement
pour les éléments dans la gamme de na-u
test sans halogène, Test ROHS/ELV
mesure de l'épaisseur du revêtement
identification de bijoux, pierres précieuses, métaux précieux
maîtriser la matière inconnue
une sensibilité exceptionnelle permet d'améliorer la précision jusqu'à un facteur 3
faible coût de mesure, facile à utiliser
Instruments professionnels, normalisation
Processus d'analyse basé sur ISO16232, VDA19
Système de test granulométrique haute performance
Résultats des tests traçables, générer des résultats et des rapports
Fonctionnement simple, capture d'images rapide et efficace
Compensation automatique, chaque image est claire, navigation transparente
Utilisé dans les industries des pièces automobiles, de l'aérospatiale et de la lubrification hydraulique
Satisfaire Volkswagen, BMW, GM, Ford et d'autres grands constructeurs automobiles
L'analyseur XRF portable le plus rapide.
Identification de la nuance de n'importe quel métal en 1 seconde.
Analyse chimique complète en 3 à 5 secondes pour l'acier inoxydable et autres alliages.
Analyse chimique complète en 7 à 8 secondes pour un alliage d'aluminium.
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