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Spectromètre d'émission optique M4 OES

Faible coût total de possession

Optique sans vide avec stabilisation rapide

Performances analytiques et fiabilité inégalées

Excellente stabilité à long terme

Facile à utiliser avec contrôle total du PC

Conception compacte, petite taille.

Maximum 20 éléments

  • les détails du produit
  • vidéo

Résumé :

Le spectromètre d'émission optique M4 adopte une technologie de processus de conception et de fabrication standard internationale, des combinaisons entièrement numériques avec la technologie Internet, et utilisant un détecteur CMOS haute résolution, le système de purge d'argon conçu avec précision pour garantir des instruments avec des performances plus élevées, un coût inférieur et un prix extrêmement compétitif.

Le spectromètre M4 est l'instrument le plus approprié pour la détermination de divers éléments dans différentes matrices (Fe, Al, Mg). C'est une solution idéale pour le contrôle du traitement des métaux et l'analyse chimique, l'analyse de la qualité des matériaux métalliques et les laboratoires de recherche. Il est économique et ne nécessite pas de système de vide.

Si le client veut un coût élevé et que le test est peu fréquent, le M4 OES sera un bon choix.

Candidatures :

Laboratoires d'essais : laboratoires d'essais commerciaux, universités et collèges

Fabricants d'alliages : contrôle de la transformation des métaux et analyse chimique

Industries de taille moyenne : extrêmement robustes et économiques ; faible coût / analyse

Les fonderies qui ont besoin d'une analyse rapide à proximité du four

Installations de fabrication

Identification du matériel d'entrepôt

Base : Fe, Al, Mg

Traits:

Précis fiable, rapide, polyvalent et abordable

Unité de bureau compacte

Économie d'énergie, alimentation en veille 50VA,

La chambre lumineuse remplie d'argon à la place du système de vide.

Le détecteur CMOS haute résolution peut réaliser une analyse du spectre complet.

Couverture complète de la longueur d'onde, étalonnage personnalisé en usine, ajout d'un nouvel élément sans autre configuration matérielle.

Gamme de longueurs d'onde 1 65 nm ~ 5 80 nm (extensible) , les lignes spectrales peuvent couvrir tous les éléments importants

Détection UV très sensible avec le système de purge précisément à l'argon,

Contrôle de la température par spectromètre assurant une grande précision et stabilité

Source d'étincelles numérisée programmable, générant une forme d'onde de décharge optimisée pour différentes bases.

Protection avancée contre l'excitation et système de diagnostic assurant la sécurité de fonctionnement

Contrôle de la purge d'argon protégeant la lentille d'entrée de la contamination, minimisant l'entretien

Capture de données professionnelle, précision améliorée en réduisant les interférences de fond

Étalonnage global en usine avec correction des interférences

Support technologique et mise à jour logicielle gratuits.

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Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons

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Facile à utiliser avec un contrôle total sur PC

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