menu
banner

Spectromètre d'émission optique à étincelles d'arc sous vide W6

Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS

Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale

Limites de détection ultra-faibles

Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments

Stabilité et répétabilité à long terme

Excellente spectroscopie d'émission optique verticale

Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel

Analyse à très faible teneur en carbone et en azote

Applications d'analyse de petits échantillons

  • les détails du produit
  • vidéo

Résumé:

Le spectromètre d'émission optique W6 est le spectromètre OES à arc/étincelle le plus avancé, offrant des performances optimales pour l'analyse des métaux. Il utilise une technologie entièrement numérique, remplaçant ainsi la technologie de simulation des tubes photomultiplicateurs (PMT) encombrants, et se positionne à la pointe de la technologie internationale en matière de spectromètres. L'adoption d'une chambre optique sous vide, d'une source de lumière d'excitation entièrement numérique, de détecteurs CMOS avancés et d'un système d'acquisition de données à haute vitesse confère à l'appareil des performances exceptionnelles, une limite de détection (LOD) ultra-basse, une stabilité et une répétabilité à long terme remarquables. Sa précision analytique atteint un niveau de référence mondial. C'est un outil majeur pour le contrôle qualité, la reconnaissance des marques de matériaux, la recherche et le développement dans l'industrie de la fabrication, de la transformation et de la fusion des métaux. Cet analyseur établit une nouvelle norme en matière de R&D et de contrôle des procédés et de la qualité.

Applications :

Les spectromètres d'émission optique W6 (OES à étincelles) sont parmi les principaux appareils utilisés pour le contrôle qualité, la reconnaissance des marques de matériaux, la recherche et le développement de matériaux dans l'industrie de la fabrication, du traitement et de la fusion des métaux. Les W6 sont utilisés pour des applications dans l'analyse élémentaire des métaux, l'analyse des éléments traces pour la science et l'industrie dans des domaines tels que la métallurgie, la fonderie, le génie mécanique, la recherche scientifique, l'inspection des produits, l'automobile, le génie pétrochimique, la construction navale, l'électricité, l'aérospatiale, l'énergie nucléaire, la fusion, le traitement et le recyclage des métaux ferreux et non ferreux.

Laboratoires de pointe : défense, chemins de fer, recherche fondamentale, etc.

Analyse rapide des éléments C, S, P, B, N et Ti dans les grandes aciéries, avec des limites de détection allant de quelques ppm à 1 ppm.

Applications des métaux purs : Al, Pb, Zn, Cu, etc., d’une pureté supérieure à 99,95 %.

Conformité réglementaire. Faibles limites de détection pour contrôler le plomb, le cadmium, l'arsenic, etc. (par exemple, construction navale).

Fabricants d'alliages spéciaux : Large gamme d'éléments avec de faibles limites de détection

Installations de fabrication

Identification des matériaux d'entrepôt

Base : Fe, Cu, Al, Ni, Co, Mg, Ti, Zn, Pb, Sn, Ag, etc.

Caractéristiques:

Principales caractéristiques de l'appareil

1. Système d'optique sous vide optimisé

2. Source lumineuse Inspire entièrement numérique

3. Dispositif d'excitation de conception fonctionnelle

4. Système unique d'alimentation en gaz argon

5. Système de vide avancé

6. Système de lecture hautement intégré et direct

7. Logiciel d'analyse visuel et facile à utiliser

Caractéristiques techniques :

Système optique

1. Détection de la base Fe、Al、Cu、Ni、Ti、Co、Zn、Sn、Mg、Pb etc.

2. Structure de type Paschen-Runge de type Par, spectre complet du système optique ;

3. Plusieurs détecteurs CMOS haute performance ;

4. Intégration de la formation de la chambre optique, installation dynamique du parc d'archives roumain, résistance aux variations de température environnementale ;

5. Chambre à vide léger conçue pour garantir que le C, le S, le P et le N atteignent les meilleures performances ;

6. Contrôle de la température ambiante du rayon, température constante de 35℃ ;

7. Technologie et matériaux optiques à lentilles MgF2 directes pour assurer la meilleure énergie des longueurs d'onde ultraviolettes C, S, P, N.

Station d'excitation d'échantillons

1. Collecteur intégré, technologie d'électrode d'injection ;

2. L'optimisation de la conception du circuit de gaz argon garantit que la station de refroidissement efficace excite et motive efficacement la poussière métallique générée dans le processus dans le filtre ; l'excitation de l'échantillon est plus stable et réduit considérablement l'absorption de poussière métallique par l'organisme, contribuant ainsi à protéger la santé et la sécurité de l'opérateur ;

3. Espace d'excitation plus petit, consommation de gaz argon réduite ;

4. Porte-échantillon facile à utiliser ;

5. Grâce à la fonction de balayage de l'électrode, la durée de vie est plus longue et le nettoyage de l'électrode est facile ;

6. Une ouverture de 13 mm favorise une analyse d'échantillon plus propice ;

7. La table d'excitation d'échantillons ouverts peut être adaptée à une variété de tailles et de formes pour analyser davantage d'échantillons (avec câble) ;

8. Conception du dispositif d'objectif SLR, le personnel général peut faciliter la maintenance de l'excitation et le nettoyage de l'objectif.

source de lumière d'excitation

1. Nouvelle source lumineuse numérique réglable, fréquence maximale jusqu'à 1000 Hz ;

2. Technologie de prédiction à haute énergie (HEPS) ;

3. Conception optimisée des circuits de commande et d'alimentation, amélioration des fonctions de sécurité ;

4. Fournir la meilleure analyse pour différentes étincelles cibles, un arc ou une combinaison de formes d'ondes d'excitation ;

5. Courant de décharge : 400 A Max.

Système d'acquisition de données

1. Processeur de données ARM haute performance, avec fonctions d'acquisition et de contrôle de données ultra-rapides

2. Technologie de détection à semi-conducteurs CMOS haute performance, bandes spectrales dans la réception du spectre complet ;

3. Ordinateur externe (facultatif) ;

4. FPGA et technologie de communication de données à haut débit, les données sont lues dans un puissant système, les données de test sont lues dans leur intégralité en peu de temps.

Logiciel d'analyse

1. Logiciel d'analyse graphique à spectre complet pour système Windows multilingue basé sur CMOS, pratique et fonctionnel ;

2. Contrôle complet de la gestion de l'ensemble du processus de mesure et fourniture aux utilisateurs d'une puissante capacité de traitement des données et d'une capacité de production de rapports de test ;

3. L'instrument peut être configuré avec plusieurs courbes d'étalonnage d'usine et davantage d'analyses de matériaux et de solutions avancées ;

4. Logiciel permettant d'obtenir un spectre complet de détection, une déduction intelligente des interférences, un courant d'obscurité de flambage, des algorithmes de fond et de bruit pour améliorer les instruments analytiques ;

5. Diagnostic complet du système automatique ;

6. Les fonctions complètes de gestion de bases de données permettent d'interroger facilement les données et de les résumer ;

7. Algorithmes de correction intelligents pour garantir un instrument stable et fiable ;

8. Spectre complet d'informations et algorithme de déduction des interférences pour assurer une analyse instrumentale plus précise ;

9. S'adapter aux systèmes d'exploitation Windows les plus récents.

Paramètre:

Article

Indice

Système optique

Distance focale

400 nm

Gamme de longueurs d'onde

130 nm-800 nm

Détecteur

Détecteurs CMOS multi-détecteurs haute résolution

Degré de vide

Contrôle automatique dans un rayon de 6 à 20 pa

Résolution en pixels

15h30

Ligne de grille

2400 m1/mm

dispersion de raie spectrale du premier ordre rare

1,2 nm/mm

Rapport de résolution moyen

22h/pixel

Spectre complet

La température de la chambre d'allumage est contrôlée automatiquement.

Source Spark

Taper

Source d'arc et d'étincelles numériques

Fréquence d'étincelles

100-1000 Hz

courant de plasma

1-80A

tension d'allumage

>15000V

Source Spark

Conception optimisée des paramètres de décharge

Technologie de précombustion à haute énergie HEPS

Processeur

Acquisition et traitement de données synchronisées à haute vitesse

Support d'étincelles

Électrode

technologie des électrodes en tungstène

Se maquiller

Conception d'autocompensation de la déformation thermique

Argon purgé avec une consommation minimale d'argon

technologie d'électrode à décharge par pulvérisation

technologie d'électrodes ajustables

Autres

Éléments mesurables

Fe, Al, Cu, Ni, Ti, Co, Zn, Sn, Mg, Pb, etc.

Dimension

650 mm (L) * 860 mm * 1200 mm (H)

poids

Environ 235 kg

température de stockage

0℃-45℃

Température de fonctionnement

10℃-35℃, 23±2℃ est recommandé

Pouvoir

220 V CA / 50 Hz (Personnalisé)

Consommation d'énergie

Puissance d'allumage : 700 W / Puissance en veille : 100 W

Qualité argon

99,999 %, pression d'argon > 4 MPa

Consommation d'argon

5 L/min en mode allumage

Interface

Transmission de données Ethernet basée sur DM9000A

laisser un message
si vous êtes intéressé par nos produits et souhaitez en savoir plus,veuillez laisser un message ici,nous vous répondrons dès que possible.
Produits connexes
optical emission spectrometer
Spectromètre d'émission optique à étincelles pour matériaux de base en galvalume

Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS

Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale

Limites de détection ultra-faibles

Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments

Stabilité et répétabilité à long terme

Excellente spectroscopie d'émission optique verticale

Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel

Analyse à très faible teneur en carbone et en azote

Applications d'analyse de petits échantillons

Metal analyzer
Spectromètre d'émission optique à étincelle d'arc pour l'aluminium

Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS

Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale

Limites de détection ultra-faibles

Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments

Stabilité et répétabilité à long terme

Excellente spectroscopie d'émission optique verticale

Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel

Analyse à très faible teneur en carbone et en azote

Applications d'analyse de petits échantillons

metal analyzer
Spectromètre d'émission optique à lecture directe pour l'analyse des métaux

Spectromètre d'émission optique à décharge par étincelles basé sur la technologie CMOS

Analyse multi-bases et complète du spectre pour une flexibilité élémentaire maximale

Limites de détection ultra-faibles

Plage de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum 30+ éléments

Stabilité et répétabilité à long terme

Excellente spectroscopie d'émission optique verticale

Manomètre à vide pour surveiller l'état du vide en temps réel

Analyse à très faible teneur en carbone et en azote

Applications d'analyse de petits échantillons

icp aes
Analyse ICP AES pour l'analyse des mines

ICP-OES simultané pour l'analyse élémentaire de liquides

gamme de longueur d'onde : 195-800 nm

pour 70 oligoéléments et macroéléments

analyser jusqu'à 600 échantillons par jour

faibles coûts d'exploitation

fonctionnement intuitif

limites de détection ultra-basses

ultra-haute vitesse de mesure

metal analyzer machine
spectromètre à fluorescence X pour analyse élémentaire et couche mince

contrôle de conformité rapide et non destructif

sensibilité et limites de détection exceptionnelles

une précision et une justesse remarquables

mesurer plus bas que jamais

maîtriser l'inconnu qu'il soit liquide, solide ou poudre

qu'il s'agisse de feuilles d'arbres, de plastiques, d'huile, de granit ou de verre…

gamme élémentaire : na-u

Component Cleanliness Testing Vacuum Desiccator
Test de propreté des composants du dessiccateur à vide

Un dessiccateur à vide est un récipient scellé utilisé dans le propreté essai laboratoire pour stocker ou refroidir le membrane filtrante qui doivent être étanches à l'humidité. Son objectif principal est de fournir un environnement à faible humidité pour filtres à l'intérieur pour éviter qu'ils n'absorbent l'humidité de l'air et ne se détériorent, ne se déliquent ou n'affectent les expériences ultérieures.

portable xrf spectrometers
Analyseur XRF portable et de poche

L'analyseur XRF portable le plus rapide.

Identification de la nuance de n'importe quel métal en 1 seconde.

Analyse chimique complète en 3 à 5 secondes pour l'acier inoxydable et autres alliages.

Analyse chimique complète en 7 à 8 secondes pour un alliage d'aluminium.

Technical Cleanliness ISO 16232 Analysis Balance
Propreté technique ISO 16232 Balance d'analyse

Mesure précisément le poids de la membrane filtrante avant et après extraction de propreté , déterminant ainsi le poids de la contaminants particulaires dans les composants.

laisser un message
laisser un message
si vous êtes intéressé par nos produits et souhaitez en savoir plus,veuillez laisser un message ici,nous vous répondrons dès que possible.

domicile

des produits

skype

whatsapp