Spectromètre EDXRF de paillasse : analyse élémentaire rapide et non destructive (méthode FP)
Mar 11 , 2026
Cette vidéo présente l'analyseur XRF de paillasse avec méthode FP (paramètre fondamental) pour l'analyse quantitative sans étalon.
Aucun échantillon standard n'est nécessaire.
Essais non destructifs
Analyse élémentaire complète
Plage d'éléments : F(9) – U(92)
Analyse rapide : environ 15 min par échantillon
Idéal pour les nouveaux matériaux, les déchets industriels, l'analyse des métaux et la conformité RoHS.
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