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Solution d'analyse technique de la propreté

Solution complète pour l'analyse optique des particules et la propreté technique

Système d'analyse automatique des filtres

Facilitez votre propreté technique

Élimination et analyse de la contamination

Analyses et révision rapides en direct

Intégration complète du système pour des performances élevées

Systèmes d'analyse de propreté modernes avec logiciel intuitif

  • les détails du produit
  • vidéo

Solution d'analyse technique de la propreté

Solution complète pour l'analyse optique des particules et la propreté technique

Notre solution d'analyse de propreté technique peut répondre aux normes inférieures et principalement utilisée pour

Normes

Principalement utilisé pour

ISO 11218:1993

Aéronautique - Classement de propreté des fluides hydrauliques

ISO 12345:2013

Moteurs diesel - Évaluation de la propreté des équipements d'injection de carburant

ISO 14952:2003

Systèmes spatiaux - Propreté de surface des systèmes fluides

ISO 16232-10:2007

Véhicules routiers - Propreté des composants des circuits de fluides

ISO 4406:1999

Transmissions hydrauliques - Fluides - Méthode de codage du niveau de contamination par des particules solides

ISO 4407:1991

Transmissions hydrauliques - Contamination des fluides - Détermination de la contamination particulaire par la méthode de comptage au microscope

NAS 1638:2011

Exigences de propreté des pièces utilisées dans les systèmes hydrauliques

NF E 48-651:1986

TRANSMISSIONS HYDRAULIQUES - FLUIDES - DETERMINATION DE LA POLLUTION PARTICULAIRE PAR LA METHODE DE COMPTAGE AU MICROSCOPE

NF E 48-655:1989

Transmissions hydrauliques - Fluides - Contamination particulaire - Expression des résultats

NF ISO 21018-1:2008

Transmissions hydrauliques - Surveillance du niveau de contamination particulaire du fluide

SAE AS 4059:2011

Transmissions aérospatiales - Classification de propreté des fluides hydrauliques

VDA 19.1:2015

Circuits de fluides dans l'automobile-Contrôle de Propreté Technique

Flux de travail d'analyse de la propreté - Étapes comme ci-dessous

Préparation des pièces/composants selon les méthodes requises

La méthode de préparation dépendra du type de pièce ou de composant et de la taille de l'échantillon à analyser. Déterminez la solution requise pour la pièce spécifique et la taille de l'échantillon.

Extraction / Filtration par Cabinet de propreté des composants CC767

Extrayez les particules contaminantes des pièces et des composants par pulvérisation, rinçage ou ultrasons. La solution de nettoyage est ensuite passée à travers un filtre, dont le type dépend des pièces nettoyées, et les particules retenues sur des membranes pour analyse. Les filtres sont séchés en étuve puis évalués.

Analyse des particules par le système d'analyse de la propreté technique CA45

Les particules sont détectées, quantifiées et classées selon leur taille et leur type, c'est-à-dire leur potentiel à causer des dommages. Cela se fait avec le système d'analyse de la propreté technique CA45 à l'aide d'un microscope numérique et d'un système logiciel de propreté.

Vérifier les résultats selon ISO 16232 et VDA19

Examinez les résultats de l'analyse et identifiez si des particules potentiellement catastrophiques sont présentes. Les propriétés de réflexion de tous les polluants sur l'ensemble du filtre peuvent être déterminées par balayage, et la classification et la mesure de la taille des quatre types de particules suivants peuvent être effectuées rapidement et automatiquement en quelques minutes : particules réfléchissantes, fibres réfléchissantes, particules non réfléchissantes , et des fibres non réfléchissantes.

Liste d'approvisionnement

Non.

Article

Caractéristiques

QTÉ

Unité

Remarques

1

Microscope optique HD

Olympe, Nikon

1

Régler

Système d'analyse de la propreté technique CA45

2

Plate-forme de balayage électrique de haute précision + support

1

Régler

3

Système de mise au point automatique de haute précision

1

Régler

4

Logiciel d'analyse de la propreté

V1.1

1

Régler

5

Système de polarisation manuel

1

Régler

6

Outillage de positionnement de la membrane filtrante

1

Régler

sept

Pince à membranes

1

Régler

8

Boîtier de contrôle de la plate-forme de numérisation

1

Régler

9

Caméra HD CCD

1

Régler

dix

L'ordinateur

Lenovo

1

Régler

11

Numéro de série de la clé électronique

1

Régler

12

Documents (Manuel, CQ)

1

Régler

13

Armoires de propreté

CC767

1

Régler

Armoire de propreté des composants CC767

14

Pistolet de nettoyage

1

pièces

15

Verre doseur

1

pièces

16

Filtre de précision pour armoires de propreté

0.22um/0.45um/1um, 156mm

6

pièces

17

Membrane filtrante de haute précision

5um/10um/20um, 47mm

1

Boîte

18

Brucelles plates en acier inoxydable

1

pièces

19

Conduite d'air des armoires de propreté

1

pièces

20

Étagère grillagée pour armoires de propreté

1

pièces

21

Clé de l'appareil

1

pièces

22

Câble d'alimentation

1

pièces

23

Documents (Manuel, CQ)

1

Régler

24

Balance analytique électronique

1

Régler

Facultatif, non inclus dans le devis.

25

Four de séchage électrique

1

Régler

26

Nettoyant pour armoires de propreté

D60 25L/ Seau

1

Seau

27

Sécheur de verrerie de laboratoire

1

pièces

28

Boite de conservation des membranes

1

pièces

28

Bague d'étanchéité de serrage à membrane

1

pièces

30

Dessiccateur en verre

1

pièces

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une précision et une justesse remarquables

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maîtriser l'inconnu qu'il soit liquide, solide ou poudre

qu'il s'agisse de feuilles d'arbres, de plastiques, d'huile, de granit ou de verre…

gamme élémentaire : na-u

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Gamme de longueurs d'onde : 130 nm à 800 nm, maximum de 30 éléments

Stabilité et répétabilité à long terme

Excellente spectroscopie d'émission optique verticale

Vacuomètre pour surveiller l'état du vide en temps réel

Analyse à très faible teneur en carbone et à faible teneur en azote

Applications d'analyse de petits échantillons

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L'analyseur de métaux haute performance de 4e génération

Basé sur CMOS, décharge par étincelle, détection de métaux

Limites de détection ultra-basses

Intégration élevée, fiabilité, stabilité

Faible coût d'exploitation et entretien facile

Chambre optique sous vide et faible consommation d'argon

Technologie à jet d'argon pour optimiser l'analyse de petits échantillons

Modification standardisée des paramètres

Maximum 30+ éléments

Analyse à haute teneur en azote (N) 0,03-0,9 %

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ICP AES utilisé dans l'industrie médicale

ICP-OES simultané pour l'analyse élémentaire de liquides

gamme de longueur d'onde : 195-800 nm

pour 70 oligoéléments et macroéléments

analyser jusqu'à 600 échantillons par jour

faibles coûts d'exploitation

fonctionnement intuitif

limites de détection ultra-basses

ultra-haute vitesse de mesure

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analyseur XRF de paillasse pour élément

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sensibilité et limites de détection exceptionnelles

une précision et une justesse remarquables

mesurer plus bas que jamais

maîtriser l'inconnu qu'il soit liquide, solide ou poudre

qu'il s'agisse de feuilles d'arbres, de plastiques, d'huile, de granit ou de verre…

gamme élémentaire : na-u

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Spectromètre à étincelles à arc mobile pour l'analyse des métaux

Analyse sur site flexible, fiable et sécurisée

À tout moment, n'importe où, inspection sur site

Identification positive des matériaux (PMI)

Poids léger d'environ 20 kg

Haute précision et stabilité

Convient pour la tâche d'analyse dans différentes conditions

Compact, robuste et avec une optique haute performance

Conception mobile intelligente et multimodale

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